Pubblicata la versione italiana della UNI CEI EN ISO/IEC 17025:2018 “Requisiti generali per la competenza dei laboratori di prova e taratura”, la norma internazionale di riferimento per tutti i laboratori di prova e taratura.
Si tratta di un importante snodo per l’intera comunità metrologica, soprattutto perché questa nuova edizione presenta alcune significative novità rispetto alla precedente e “storica” edizione del 2005.
La conformità alla ISO/IEC 17025 è un passaggio obbligato per ogni laboratorio che intenda ottenere il riconoscimento transnazionale dei propri rapporti di prova e certificati di taratura. Essa è diventata nel tempo lo strumento fondamentale per garantire competenza e coerente funzionamento di quel pilastro del sistema economico-produttivo rappresentato dai laboratori di prova e taratura.
La nuova UNI CEI EN ISO/IEC 17025 si presenta con un’articolazione diversa rispetto alla versione precedente, recependo gli elementi comuni (common elements) che ISO/CASCO (Committee on conformity assessment) ha stabilito per tutte le norme della serie ISO/IEC 17000 di nuova generazione. In essa si tiene conto della crescente informatizzazione delle attività di laboratorio, si dà una maggiore enfasi ai concetti di imparzialità, riservatezza e trasparenza nei riguardi del cliente e si fornisce una strutturazione più puntuale dei requisiti riguardanti la competenza del personale.
In particolare è stato introdotto il concetto di “regola decisionale” (che riguarda il modo in cui il laboratorio di prova tiene conto dell’incertezza di misura), viene dato spazio al controllo dei dati e alla gestione delle informazioni (a fronte della digital innovation) ed è stato ampliato il termine di “equipment”, tradotto ora con la parola “dotazioni”, concetto più adeguato a comprenderne la nuova e più completa articolazione di significato.
Viene poi significativamente ampliata la definizione di “laboratorio”, che ora viene a comprendere espressamente anche l’attività di campionamento (vd. punto 3.6 della norma): un passaggio non solo formale e anzi di rilevante valore pratico.
La UNI CEI EN ISO/IEC 17025:2018 si presenta dunque come una norma maggiormente “prestazionale”, legata alle logiche della  ISO 9001.

mb

Fonte UNI

Pubblicata la attesa norma UNI CEI 70098-3 "Incertezza di misura - Parte 3: Guida all'espressione dell'incertezza di misura", che costituisce l’adozione, con trasposizione in norma nazionale, della GUM (Guide to the expression of Uncertainty in Measurement), ossia la vigente ISO/IEC Guide 98-3:2008.
La norma, stabilisce le regole generali per la valutazione e l'espressione dell'incertezza di misura che possono essere eseguite, a vari livelli di accuratezza, in molti campi - dal commercio al dettaglio alla ricerca di base. Pertanto, i principi della presente guida pretendono di essere applicabili ad un vasto spettro di misurazioni, tra cui quelle necessarie per:

• mantenere il controllo e l'assicurazione della qualità nella produzione;
• essere conformi a leggi e regolamenti o imporne il rispetto;
• condurre ricerca di base, o applicata, o di sviluppo, nella scienza e nell'ingegneria;
• tarare campioni e strumenti, ed eseguire prove nell'ambito di un sistema nazionale di misurazione, allo scopo di ottenere la riferibilità ai campioni nazionali;
• sviluppare, mantenere e confrontare campioni di riferimento internazionali e nazionali, compresi i materiali di riferimento.

La UNI CEI 70098-3 rende quindi fruibile, anche in lingua italiana, uno dei più importanti e trasversali documenti normativi in ambito metrologico, colmando il vuoto venutosi a creare con il ritiro della "storica" UNI CEI ENV 13005:2000, avvenuto in data 14 ottobre 2015 a seguito del ritiro della norma stessa da parte del CEN.
Ora le due principali Guide in ambito metrologico, ossia il VIM (il Vocabolario Internazionale di Metrologia) e il GUM, sono entrambe disponibili come norme nazionali, rispettivamente con la UNI CEI 70099:2008 e - appunto – con la UNI CEI 70098-3:2016. Proprio in questa ottica, rispetto al testo originario in lingua italiana della UNI CEI ENV 13005:2000, sono state introdotte delle modifiche editoriali e terminologiche ai fini della massima coerenza con il vocabolario VIM.

Nel dossier si parla di alcuni dei temi centrali relativi alla normazione tecnica in ambito metrologico: dai due documenti quadro, i “famigerati” VIM (Vocabolario Internazionale di Metrologia) e GUM (Guida all’espressione dell’incertezza di misura), sino ad alcune interessanti applicazioni specifiche (smart meters), passando per una presentazione della Commissione Tecnica “Metrologia”, organo tecnico misto tra UNI e CEI, che rappresenta il naturale luogo d’incontro delle varie anime dell’articolato settore metrologico.
La metrologia, ossia la scienza o arte della misurazione, è un dominio di conoscenza tipicamente trasversale. Come la matematica o la statistica, essa fornisce tecniche e strumenti indispensabili per ottenere informazioni circa un “oggetto d’indagine”; nel caso tipico di un prodotto: le sue caratteristiche fisiche, la sua conformità a requisiti specificati, l’incertezza sulle informazioni stesse, concetti peraltro applicabili anche ad un processo/servizio o ancora ad oggetti intangibili.
Spesso la sua importanza è latente o addirittura sottovalutata, quasi che il processo di misurazione sia un qualcosa che si tende a dare per scontato, ovvero confinato all’acquisto di un adeguato strumento /sistema di misura.
La realtà è ben diversa: nel processo di sviluppo e immissione sul mercato di un prodotto le misurazioni possono avere un impatto tutt’altro che trascurabile in termini di tempo e costi, in alcuni casi addirittura cruciale per il successo del prodotto medesimo. Inoltre, proprio negli ultimi decenni si è assistito a una crescente estensione della metrologia a grandezze di tipo “non convenzionale” (si pensi, ad esempio, ai materiali di riferimento – in particolare nei settori chimico e micro-biologico - alle grandezze nell’ambito delle nanotecnologie o ancora alla biometria), che hanno richiesto un progressivo affinamento a livello teorico e talvolta persino scosso alcune delle fondamenta della metrologia stessa.
In questo processo la normazione tecnica ha da sempre avuto un ruolo significativo, in particolare nel rendere il più possibile fruibili ed applicabili concetti che spesso risultano ostici persino agli “addetti ai lavori”.

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Il Consorzio Promos Ricerche, quale punto di riferimento territoriale degli Enti Normatori italiani UNI e CEI, offre, presso i propri uffici, la consultazione gratuita della normativa tecnica dei principali Enti Normatori (UNI, CEI, ISO, IEC, CENELEC, CEN).

mb
Fonte UNI e CEI

Il Vocabolario Internazionale di Metrologia (VIM) è un vocabolario, sviluppato a livello internazionale dalle più importanti organizzazioni normative, di metrologia e di accreditamento di Laboratori, che riporta i termini correlati ai concetti fondamentali e generali della metrologia, con numerosi esempi in diversi settori applicativi.
Scopo del VIM è fornire gli elementi indispensabili per permettere a tutti gli Operatori interessati alle misure ed ai risultati delle misure di utilizzare un linguaggio chiaro ed univoco che eviti interpretazioni non corrette dei documenti tecnici e dei risultati di misurazione, anche quando questi debbano essere utilizzati a fini non solo tecnici ma anche commerciali.
Esso è quindi da intendersi quale riferimento per gli organismi governativi ed intergovernativi, le associazioni del commercio, gli enti normatori, gli organismi di accreditamento, le autorità di regolamentazione, le associazioni professionali, le strutture accademiche, gli uffici acquisti per la stesura delle specifiche tecniche ed i costruttori di strumentazione per le definizioni delle caratteristiche metrologiche.
In considerazione dell’importanza del documento e per favorirne al massimo la diffusione, il CEI, dopo avere sviluppato, in collaborazione con UNI nell’ambito della “Commissione Mista UNI-CEI di Metrologia Generale”, la traduzione italiana,  ha deciso di rendere disponibile (oltre alla consueta versione a pagamento, cartacea o su file)  anche una versione informatizzata a titolo gratuito.
E’ quindi accessibile dal sito www.ceiweb.it, con il solo vincolo della registrazione gratuita, la versione informatizzata del VIM che permette di consultare direttamente le voci di interesse nel campo della metrologia, fornendo per ogni voce la definizione completa e la traduzione (della voce e della definizione) in inglese ed in francese, con gli opportuni rimandi informatizzati ad altre voci correlate (quando necessari).
Sono disponibili indici nelle tre lingue che consentono di utilizzare il Vocabolario anche per verificare traduzioni nelle diverse lingue.

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Fonte: CEI